仪电学院受邀参加“第30届测试与故障诊断技术研讨会”

3月22日，刘文怡院长受邀赴武汉参加了由中国计算机自动测量与控制技术协会举办的“第30届测试与故障诊断技术研讨会”。

“测试与故障诊断技术研讨会”已连续召开了29届，主要围绕试验与测试、预测与健康管理、故障与诊断等技术领域取得的最新重大科研成果，加强相关技术在国家重大工程中的推广应用。通过分析国际国内测试与故障诊断前沿技术发展态势，研讨当前技术发展方向及面临的困难，增强设计研发人员对技术发展趋势的了解，提高研制过程中的系统设计能力，提升装备的测试与故障诊断技术水平。共同促进测试与故障诊断技术在国防军工和民用领域的广泛应用，为测控技术的发展贡献力量。

本次研讨会吸引了国内各行业领域和高校的150多名来宾参会，共有16位嘉宾做了专题报告。刘文怡院长受邀做了《新一代高可靠性智能重构总线技术》报告，重点介绍了团队历经八年自主研发的SharkNet高性能工业网络及其在仪器领域的扩展——SNXI网络化仪器总线，实现了一种全新的大规模网络化复杂仪器系统新架构。该技术高度融合现场总线与仪器总线，深度支持嵌入式测试与控制，已经成功应用于多个国家重大工程项目。

本次研讨会增进了“测试与故障诊断技术”同行及兄弟院校的交流和联系，向与会者展示了我院的最新研究成果，进一步加强了产学研各界的沟通，对扩大仪器学科的影响力起到了促进作用。

一审/一校：杨李燕

二审/二校：黄宁

三审/三校：刘文怡